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LOPEC-Vortrag: Test & Messung: Inline-Inspektion für gedruckte Elektronik

1 Minuten lesen - Veröffentlicht auf March 5, 2024

Unsere Innovationsdirektorin Theresa Spaan-Burke hat auf der LOPEC-Konferenz in München referiert. Thema des Vortrags: "Test and measurement - Inline Inspection for Printed Electronics"

Theresas talk 2Schwerpunkt: Optimierte Testverfahren für gedruckte Elektronik sind entscheidend mit Produktionsgeschwindigkeit, Effizienz und Auswirkungen auf die Nachhaltigkeit verbunden. Effektive Tests und Inspektionen zielen darauf ab, "verwertbare, genaue und kostengünstige Daten und Erkenntnisse" zu liefern.

In ihrem Vortrag hat sie eine Auswahl von Prüfverfahren vorgestellt, mit besonderem Fokus auf Inline-Tests. Auch die Entwicklung von Standards wurde thematisiert.

Die LOPEC (Large-area, Organic & Printed Electronics Convention) ist die führende internationale Veranstaltung für gedruckte Elektronik. Die Kombination aus Messe und Konferenz bildet den perfekten Rahmen, um die Komplexität und Dynamik dieser jungen Branche abzubilden. Die LOPEC wird gemeinsam von der OE-A (Organic and Printed Electronics Association) und der Messe München GmbH organisiert.

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Theresas talk 1

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veröffentlicht March 5, 2024

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